UI9600 晶體管熱敏參數(shù)篩選儀

　　熱敏參數(shù)是衡量晶體管VBE，β，ICEO 等參數(shù)在常溫和高溫下的變化量，是晶體管的重要特性，受到越來(lái)越多的鎮(zhèn)流器生產(chǎn)廠家重視。因?yàn)殒?zhèn)流器內(nèi)部溫度很高，高溫下晶體管的VBE，β，ICEO 等參數(shù)會(huì)發(fā)生變化，如果變化量過(guò)大，將嚴(yán)重降低產(chǎn)品可靠性。

性能:

◆ 常溫下測(cè)量的參數(shù):放大倍數(shù)β(0~99)

　 開(kāi)關(guān)時(shí)間T (0.01μs~99.9μs)，包括上升時(shí)間，存儲(chǔ)時(shí)間，下降時(shí)間Tr，Ts，Tf

　 飽和壓降VCES (0~2V)，正向壓降VBE (0~2V)

　 漏電流ICEO (0.1μA~3mA)

　 耐壓BVCEO (50V~650V)

◆ 高溫下測(cè)量的參數(shù): β, VBE, ICEO

◆ 對(duì)比常溫和高溫下的兩次測(cè)量結(jié)果，對(duì)β、VBE、ICEO 三項(xiàng)參數(shù)變化量超過(guò)一定范圍的

　 管子以聲光報(bào)警，予以剔除

◆ 對(duì)T、β進(jìn)行分檔，可顯示批號(hào)；對(duì)VCES、VBE、 ICEO、BVCEO 及熱敏參數(shù)進(jìn)行超限判斷，

　 不合格的聲光報(bào)警，并指示不合格項(xiàng)

◆ 測(cè)試條件可按要求自由調(diào)節(jié)或設(shè)定

　 A. β測(cè)試β: Ib 注入電流有三檔: 0.1mA, 1mA, 10mA

　 B. 開(kāi)關(guān)時(shí)間測(cè)試: Ic電流有四檔: 0.5A, 0.25A, 0.1A, 0.05A

　 對(duì)應(yīng) Ib 電流為: 0.1A, 0.05A, 0.02A, 0.01A

　 C. 對(duì)晶體管加熱條件:

　　加熱電壓: 5~20V連續(xù)可調(diào)；加熱電流: 0.05~2A連續(xù)可調(diào)；加熱時(shí)間: 0~9.9s連續(xù)可調(diào)

◆ 分檔、超限判斷可自由設(shè)定，掉電自動(dòng)保存，儀器能夠同時(shí)保存20組數(shù)據(jù)，使用時(shí)只要調(diào)出

　 其中一組即可

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